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索引目录 XCH-12000X射线面密度测量仪  设备用途：用于对锂电池正极涂布的面密度（单位面积的重量）进行非接触式在线检测。 测量原理：X射线属于电磁波，X射线穿透锂电池正极涂布极片时，发生强度衰减，其衰减符合指数规律，与涂布面密度相关，依据探测射线的衰减实现涂布面密度的测量。钴酸锂，锰酸锂，磷酸铁锂，三元等正极材料等效原子序数高，与基材铝箔相比，对于X射线的吸收系数比较大， 所以基材的正常波动对测量结果影响很小。 设备特点：
WXCH-12000微光斑X射线面密度测量仪
 输出X射线微光斑尺寸6mm*6mm 输出X射线微光斑尺寸：6mm*9mm  专用的微光斑X射线发生器 专用的微光斑X射线探测器  微光斑X射线测量到的极片边缘轮廓  微光斑X射线测量到的极片两侧边缘轮廓 XCH-5000超软X射线面密度测量仪（隔膜面密度测量仪）  设备用途：用于对锂电池隔膜的面密度（单位面积的重量）进行非接触式在线检测。 测量原理：针对锂电池隔膜的等效原子序数低，面密度小的材质特点，使用超软X射线（依据射线穿透物质的能力，将能量低于5KeV的X射线称之为超软X射线）透射隔膜，探测隔膜对超软X射线的吸收，实现对隔膜面密度的测量。由于隔膜的陶瓷涂层对超软X射线的吸收远大于基材，因此射线的透射衰减主要反映了涂层面密度的变化，而对基材不敏感，因此，基材的正常波动不影响测量结果。 设备特点：
β射线面密度测量仪BCH25100  设备用途：用于对锂电池负极涂布的面密度（单位面积的重量）进行非接触式在线检测。 测量原理：β射线属于带电粒子流，β射线穿透锂电池负极涂布极片时，发生强度衰减，其衰减符合指数规律，与涂布面密度相关，依据探测射线的衰减实现涂布面密度的测量。考虑锂电池负极材料的结构形式，材料的原子系数，以及面密度的范围，本装置选用β放射源Kr85。 设备特点：
 放射源  高性能β射线探测器 公司放射源源库，具有β放射源销售资质：   涂布质量闭环控制 控制目的：闭环控制器根据测厚仪给出的涂布面密度测量值，自动调节浆料输送螺杆泵的泵速，使得纵向（走带方向）涂布量在工艺标准要求的界限之内，避免超差，以达到提高涂布重量一致性，减少人工干预的目的。闭环控制的应用效果如下：降低了对工人技术经验的要求，可降低因经验不足导致的残次品率；可有效弥补因操作人员的工作疲劳造成的失误；减少对人工的依赖，能够达到减员增效的效果。 控制原理：鉴于现有涂布机技术条件，影响涂布面密度一致性的因素主要是极片走带方向，走带方向重量一致性是靠泵速控制。测量仪通过检测，经PLC进行运算数据比对分析，来驱动伺服电机控制涂布机的上的泵速，从而达到闭环控制的效果。 控制算法：针对在涂布量闭环控制中，由于传输的延迟，被控制对象具有纯滞后性质引起系统产生超调或者振荡的特点，采用基于史密斯补偿的单神经元PID控制策略，作为具有纯滞后补偿的数字控制器。  电气组成：测厚仪PLC给出的泵速信号可以采用数据信号或者标准变送信号，采用数据信号时用通讯接口（网络接口或者标准串行口）传送，采用标准变送信号时，与定量泵控制器的AD接口对接传送。  多架面密度测量仪同位测量系统  测量原理：通过对扫描轨迹同位控制技术实现多架测量仪对同一轨迹的涂布面密度的精确测量，通过同位测量数据相减即可得到每次单面涂布或者双面面密度。适用于锂电池正、负极片连续单双面涂布精确测量。 实现方法：多架系统中采用高精度、高分辨率光电编码器精确检测线速度，通过CAN总线实现快速实时数据传输，依据检测维持扫描角度，从而保持前后两个扫描架实现同点对应检测。同点对应检测所显示的剖面，有利于工艺和质量人员对两个检测点的数据进行对比分析，从而发现问题，优化工艺，提高质量。 主要参数：
 人机交互：     |
