铜箔/铝箔面密度在线测量系统
设备用途：闭环控制是指在铜箔生产过程中，根据传感器扫描 检测数据进行纵向、横向调节，保证铜箔在纵向、横向的均匀一致性
闭环控制技术
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测量原理：X射线属于电磁波，X射线穿透锂电池正极涂布极片时，发生强度衰减，其衰减符合指数规律，与涂布面密度相关，依据探测射线的衰减实现涂布面密度的测量。
设备特点：公司自研多变量解耦算法和反走样算法，在横向调节控制中解决了相邻区域干扰的问题，同时采用了Smith预估算模型，解决滞后问题。
技术指标：
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射线源 |
X-Ray |
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检测幅宽 |
0 – 1600 mm |
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检测厚度 |
2.5 – 100 um |
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检测面密度 |
20 – 1000 g/m^2 |
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系统响应时间 |
＜1ms |
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扫描速度 |
24m/min |
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分辨率 |
0.1% 或 0.02g/m^2 |
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采样频率 |
20kHz |
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重复性精度 |
±2σ≤0.04% |
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辐射防护 |
辐射防护：距离设备表面10cm处，剂量率不超过1μSv/h，达到豁免等级，无需办理辐射安全许可证 |
软件界面
